FIS4 NIR Wavefront Sensor

Våra FIS4 NIR-vågfrontsensorer är sakkunnigt utformade för att möta de krävande kraven på högprecision av optisk analys, vilket ger vår kundkrets ett pålitligt instrument för att säkerställa överlägsen kvalitet på deras produkter och driftsprocesser.  Genom att integrera dessa sensorer i sina arbetsflöden kan våra kunder förutse en betydande förbättring av både produktens excellens och tillverkningseffektivitet.

Det exceptionella högupplösta och omfattande våglängdsområdet för Bojiong FIS4 NIR -vågfrontsensorn gör det till ett optimalt instrument för både vetenskaplig forskning och industriell distribution, särskilt i sammanhang som kräver noggrann mätning och rigorös analys.  Denna sensor är skicklig på att utföra högprecisionsvågfrontmätningar inom 900nm till 1200 nm våglängdspektrum, med en upplösning av 512x512 pixlar-med en imponerande 262,144 faspoäng.  Dess design innehåller eftertänksamt robusthet mot vibrationer och säkerställer stabilitet för verkliga applikationer, vilket möjliggör mätningar med hög trohet utan att kräva utarbetade miljökontrollmekanismer.  Denna inneboende motståndskraft effektivt effektiviserar operativa förfaranden och förbättrar markant den totala mäteffektiviteten.

Specifikation:

Särdrag

◆ Brett spektrum 900nm ~ 1200nm band

◆ Envägsljus självstörning, inget referensljus krävs

◆ 100% inhemskt utvecklad

◆ 2nm RMS Hög fasupplösning

◆ Stort dynamiskt intervall upp till 260 um

◆ Extremt stark vibrationsmotstånd, inget behov av optisk vibrationsisolering

◆ Med laserstörningsbanor Suppression Design

◆ Stöd kollimerade balkar och stora NA -konvergerande balkar

 Ansökan

Denna Bojiong FIS4 NIR -vågfrontsensor som används i mätning av optiskt systemavvikelse, optisk systemkalibrering, material intern gitterfördelningsmätning, hypersyta, hyperlens vågfrontmätning

Information

Bojiong FIS4 NIR Wavefront Sensor är utvecklad av ett team av professorer från Zhejiang University och Nanyang Technological University, Singapore. FIS4 NIR kombinerar patenterad slumpmässig kodad fyrvågs diffraktionsteknologi med en infraröd kamera för att störa vid det bakre bildplanet. Den har låga krav på lätta källkoherens och kräver inte fasförskjutning. Vanliga bildsystem kan uppnå interferometrisk mätning. Den har extremt hög vibrationsmotstånd och ultralätt stabilitet och kan uppnå precisionsmätning på NM-nivå utan vibrationsisolering. Den extremt höga upplösningen på 512 × 512 (262144) faspunkter uppnår högprecisionsvågfrontmätning i 900nm till 1200nm band, som kan användas för mätning av optisk system, osv.