FIS4 nära-infraröd vågfrontsensor 900-1200nm

Fis4nära-infraröd vågfrontsensor 900-1200nm

DeBojiong Fis4NIR WAVEFRONT SENSOR 900-1200NM är specifikt utformad för precisionsmätning i våglängdsbandet 900–1700nm. Den antar djupt optimerad fyrvågs lateral skjuvinterferometri-teknik och en infraröd förbättrad detekteringsmodul, vilket uppnår ett ultralätt rumsligt upplösning på 512 × 512 och en faskänslighet av 2nm RMS inom det nästan infraröda spektrala intervallet. Sensorn har ett stort dynamiskt intervall på ≥260 um, vilket möjliggör exakt analys av starka avvikelser och branta vågfronter samtidigt som man effektivt undertrycker laserfläckstörningar. Utrustad med fullband anti-reflekterande beläggning och en vanlig anti-vibrationsstruktur kan den utföra stabila och mycket repeterbara mätningar utan vibrationsisolering i scenarier som laserbearbetning, optisk systemintegrationstest och halvledarmetrologi, vilket ger tillförlitligt datastöd för infraröd optisk design och tillverkning.

BojiongFis4 Nir Wavefront Sensor 900-1200nm Introduktion

DeBojiong Fis4nära-infraröd vågfrontsensor 900-1200nm är vårt företags nya generation av högprecision optisk inspektionsutrustning, med utmärkt vibrationsmotstånd och realtidsvågfrontmätningsfunktioner. DeFis4nära-infraröd vågfrontsensor 900-1200nm till ISO 9001 Quality Management System och är certifierat av China Institute of Metrology (NIM). Det kommer med ett års garanti. DeFis4NIR Wavefront Sensor är plug-and-play, lätt att använda och med lågt underhåll, vilket effektivt förbättrar inspektionseffektiviteten och tillförlitligheten hos optiska system.

BojiongFis4NIR WAVEFRONT SENSOR 900-1200NM Parameter (specifikation)

BojiongFis4NIR WAVEFRONT SENSOR 900-1200NM Funktion och tillämpning 

Sedan 2006 har professor Yang Yongying's team vid Zhejiang University framgångsrikt lanserat Wide-Spectrum FIS4 serie vågfrontsensor Baserat på common-path-interferometri-design och realtidsvågfrontrekonstruktionsalgoritmer efter 17 års dedikerad forskning och utveckling. Denna produkt har följande enastående funktioner:

· Stark anti-vibration och vibrationsisoleringsfri: realtidsvågfrontdetektering kan uppnås i komplexa miljöer utan behov av en vibrationsisoleringsplattform;

· Mätning av hög känslighet: Vågfrontkänslighet upp till 2nm RMS, vilket möjliggör korrekt fångst av små fasförändringar;

· Single Optical Path Plug-and-play: Original Single Optical Path Design utan referensljus, vilket tillåter omedelbar användning vid start och bekväm drift;

· Kompakt, lätt och bärbar: endast storleken på en knytnäve, underlättande integration och fältanvändning.

DeFis4nära-infraröd vågfrontsensor 900-1200nmär utformad för avancerad optisk metrologi inom industriell inspektion, vetenskaplig forskning och försvarsapplikationer. Med en hög upplösning på 512 × 512 (262,144) faspunkter möjliggör de högprecisionsvågfrontmätningar i intervallet 900–1200 nm och stöder realtid 3D-visning av resultat med full upplösning med 10 ramar per sekund. De Fis4NIR Wavefront Sensor kan användas för avvikelsemätning av optiska system, optisk systemkalibrering, mätning av intern gitterfördelning av material, vågfrontmätning av metasurfaces och metallenser etc.

Bojiong Fis4NIR WAVEFRONT SENSOR 900-1200NM  Ansökan

Bojiong Fis4NIR WAVEFRONT SENSOR 900-1200NM Information

De Fis4nära-infraröd vågfrontsensor 900-1200nmanvänder patenterade slumpmässiga kodade fyrvågs diffraktionsteknologi, vilket uppnår självinterferens av den uppmätta vågfronten med en enda ljusväg. Störningar sker vid det bakre bildplanet. Denna teknik minskar väsentligt kravet på lätta källkoherens, eliminerar behovet av fasförskjutare och möjliggör mätningar med hög precision interferometri med standardavbildningssystem. Produkten erbjuder utmärkt vibrationsbeständighet och ultrahög stabilitet, vilket möjliggör nanometernivåvågmätning utan behov av en isoleringsplattform. Jämfört med traditionella Hartmann-sensorer baserade på mikrolensuppsättningar utmärker sig FIS4 nära-infraröd vågfrontsensor 900-1200NM i flera viktiga prestandaindikatorer: högre faspunktupplösning, bredare operativ bandanpassningsförmåga och större dynamiskt intervall. Det erbjuder också överlägsen kostnadsutveckling, vilket ger en pålitlig lösning för ett brett utbud av precisionsscenarier.

Fig.1.fasavbildningsprincipen baserad på fyra vågor lateral skjuvningsstörning med hjälp av slumpmässigt kodat hybridgall (REHG)

Fig.2.Least Square Wavefront Reconstruction från fyra-vågor i sidledskjuvningsinterferogram

DeFis4vågfrontsensor har blivit ett kraftfullt och allmänt använt verktyg inom vetenskaplig forskning och industri på grund av dess fördelar som kompakt struktur, stark stabilitet, hög temporär upplösning och god kompatibilitet med befintliga mikroskopisystem. Ursprungligen användes denna sensor huvudsakligen för detekteringsuppgifter i traditionella optiska workshops, inklusive optisk komponentkvalitetsutvärdering, laserstrålanalys och adaptiv optisk systemkorrigering. Därefter har dess applikationsscenarier gradvis expanderat till flera banbrytande fält såsom biomedicinsk avbildning, nanopartikelpositionering, karakterisering av metasytor och temperaturgradientmätning.

Den kompakta mekaniska designen avFis4vågfrontsensor gör det möjligt att enkelt integreras i olika befintliga mikroskopiplattformar, medan dess utmärkta robusthet säkerställer att hög interferometrisk mätnoggrannhet fortfarande kan upprätthållas även i starka vibrationsmiljöer. Måliga, medan enheten stöder enstaka mätning av en enda exponering, som effektivt kan fånga höghastighetsdynamiska processer och är lämpliga för observationer i realtid. I biomedicinsk forskning har FIS4 framgångsrikt uppnått etikettfria, högupplösta, realtidsavbildning av olika levande celler, såsom COS-7, HT1080, RPE, CHO, HEK-celler och neuroner, vilket ger ett viktigt verktyg för celldynamikforskning.

DessutomFis4vågfrontsensor används också allmänt vid fashämningsavbildning, vilket avslöjar anisotropiska biologiska vävnader och subcellulära strukturer, såsom kollagenfibrer och cytoskelett, genom bilder med hög kontrast. This technology is further extended to phase imaging in X-ray, mid-wave infrared (MWIR) and long-wave infrared (LWIR) bands, showing its wide potential in interdisciplinary applications.Recently, FIS4 has also been widely used in the characterization studies of metasurfaces and two-dimensional materials, which fully demonstrates its practical value and prospects in the fields of modern optics and materials science.