FIS4 NIR-C WAVEFRONT-sensor

Våra FIS4 NIR-C-vågfrontsensorer är sakkunnigt utformade för att noggrant uppfylla de krävande standarderna för högprecision optisk analys, vilket tillhandahåller vår kundkrets med ett pålitligt instrument för att garantera överlägsen kaliber för sina produkter och operativa metoder.  Genom att sömlöst integrera dessa sensorer i sina operativa ramverk kan våra kunder säkert förutse ett betydande framsteg inom både produktens excellens och tillverkningseffektivitet.

Den enastående högupplösta och omfattande våglängdstäckningen av Bojiong FIS4 NIR-C vågfrontsensor placerar den som ett oöverträffat verktyg för både vetenskaplig utredning och industriell implementering, särskilt i scenarier som kräver noggrann mätning och sträng analys.  Denna sofistikerade sensor utmärker sig vid att utföra vågfrontmätningar med hög precision som sträcker sig över 900nm till 1200 nm våglängdsområde, och har en anmärkningsvärd 512x512 pixelupplösning-efter totalt 262 144 distinkta faspunkter.  Dess design integrerar eftertänksamt inneboende vibrationsmotstånd och säkerställer robust stabilitet i praktiska miljöer, vilket underlättar mätningar med hög trohet utan att kräva besvärliga miljökontrollsystem.  Denna inneboende motståndskraft optimerar markant operativa arbetsflöden och höjer den totala mätgenomgången avsevärt.

Specifikation ：

Särdrag

◆ 100% inhemskt utvecklad

◆ Envägsljus självstörning, inget referensljus krävs

◆ Stort dynamiskt intervall upp till 260 μm

◆ Brett spektrum 900nm ~ 1200nm band

◆ 2nm RMS Hög fasupplösning

◆ Extremt stark vibrationsmotstånd, inget behov av optisk vibrationsisolering

◆ Med laserstörningsbanor Suppression Design

◆ Stöd kollimerade balkar och stora NA -konvergerande balkar

◆ Använda halvledarkylning

 Ansökan

Denna Bojiong FIS4 NIR-C vågfrontsensor som används i mätning av optisk systemavvikelse, optisk systemkalibrering, material intern gitterfördelningsmätning, hypersyta, hyperlens vågfrontmätning

Bojiong -detaljer

Bojiong FIS4 NIR-C (Semiconductor Cooling) Wavefront Sensor utvecklades av ett team av professorer från Zhejiang University och Nanyang Technological University, Singapore. Den har en ultrahög upplösning på 512 × 512 (262144) faspunkter och kan uppnå högprecisionsvågfrontmätning i 900nm1200nm-bandet. Det kan användas för mätning av optiskt systemavvikelse, optisk systemkalibrering, material för inre gitterfördelning, metasytor, superlens vågfrontmätning, etc.

FIS4 NIR-C kombinerar den patenterade slumpmässiga kodade fyrvågs diffraktionstekniken med en infraröd kamera och stör det bakre bildplanet. Den har låga krav på lätta källkoherens och kräver inte fasförskjutning. Vanliga bildsystem kan uppnå interferometrisk mätning. Den har extremt hög vibrationsmotstånd och ultralätt stabilitet och kan uppnå precisionsmätning på NM-nivå utan vibrationsisolering.