Ultra High Resolution Wavefront Sensor, med sin 512×512 ultrahöga upplösning, uppnår precision på nanometernivå i data, vilket säkerställer omfattande täckning för detaljerad analys. Dess breda spektralsvarsområde från 400 till 1100 nanometer gör den lämplig för olika ljuskällor. Dessutom erbjuder den 3D-resultatvisning i full upplösning i realtid med en hastighet av 10 bilder per sekund, vilket ger en dynamisk och omedelbar bild av vågfrontsdata. Detta gör det till en heltäckande lösning för vågfrontsavkänning och mätbehov.
|
produktnamn |
Ultrahögupplöst vågfrontssensor |
|
Våglängdsområde |
400nm~1100nm |
|
Målstorlek |
10mm×10mm |
|
Rumslig upplösning |
26 μm |
|
Samplingsupplösning |
2048×2048 |
|
Fasupplösning |
512×512（262144pixel） |
|
Absolut noggrannhet |
＜2nmRMS |
|
Dynamiskt omfång |
10 nmRMS |
|
Samplingsfrekvens |
162 μm (256 min) |
|
Bearbetningshastighet i realtid |
32 fps |
|
Gränssnittstyp |
10Hz (vid full upplösning) |
|
Dimensionera |
USB3.0 |
|
Vikt |
70 mm×46,5 mm×68,5 mm |
|
Våglängdsområde |
ca 240g |
◆Ultrahög upplösning på 512×512 (262144) faspunkter
◆Självstörning av ljus med en kanal, inget referensljus krävs
◆ Precis som bildbehandling, enkel och snabb konstruktion av optisk väg
◆Bredspektrum 400nm~1100nm band
◆2nm RMS högfasupplösning
◆ultra högt vibrationsmotstånd, inget behov av optisk vibrationsisolering
◆ Stöder kollimerade strålar och stora NA konvergerade strålar
Denna BOJIONG Ultra High Resolution Wavefront Sensor används i laserstrålevågfrontdetektion, adaptiv optik, ytformmätning, optisk systemkalibrering, optisk fönsterdetektering, optiskt plan, mätning av sfärisk ytform, detektering av ytjämnhet.
|
laserstrålevågfrontdetektering |
Optisk mätning av plan ytform |
|
Optisk sfärisk ytformmätning |
Aberrationsmätning av optiska system |
|
Optisk fönsterdetektering |
Mätning av gitterfördelning inuti materialet |
|
Adaptiv optik - vågfrontsdetekteringssvar i Zernike-läge |
|
BOJIONG Ultra High Resolution Wavefront Sensor Detaljer
BOJIONGUltra High Resolution Wavefront Sensor utvecklad av ett team av professorer från Zhejiang University och Nanyang Technological University of Singapore, med inhemsk patenterad teknologi, kombinerar den diffraktion och interferens för att uppnå en vanlig fyrvågs transversell skjuvningsinterferens, med överlägsen detekteringskänslighet och antivibrationsprestanda , och kan realisera dynamisk interferometri i realtid och hög hastighet utan vibrationsisolering. Realtidsmätningen visar en bildhastighet på mer än 10 bilder. Samtidigt har FIS4-sensorn en ultrahög fasupplösning på 512×512 (260 000 faspunkter), mätbandet täcker 200nm~15μm, mätkänsligheten når 2nm, och mätningsrepeterbarheten är bättre än 1/1000λ ( RMS). Den kan användas för laserstrålekvalitetsanalys, plasmaflödesfältdetektion, realtidsmätning av höghastighetsflödesfältdistribution, bildkvalitetsutvärdering av optiska system, mikroskopisk profilmätning och kvantitativ fasavbildning av biologiska celler.
Adress
No. 578 Yingkou Road, Yangpu District, Shanghai, Kina
Tel /
E-post
