Ultraviolett fyrvågs interferometrisk sensor

I hjärtat av FIS4 UV Wavefront-sensorn ligger Bojiongs banbrytande randomiserade kodning av fyrvågs diffraktionsteknik. Denna banbrytande teknik möjliggör störningar i det bakre fokalplanet även med minimal ljuskällkoherens, vilket avsevärt minskar begränsningarna för ljuskällkoherens och effektivt eliminerar kravet för fasförskjutning. FIS4 UV Wavefront-sensorn är integrerad med ett avancerat ultraviolett avbildningssystem och erbjuder mätfunktioner i realtid i realtidsmätningsmätning och uppvisar exceptionell vibrationsbeständighet och robusthet. Imponerande uppnår den precision i nanometerskala även utan vibrationssystem. Denna kapacitet öppnar upp nya möjligheter för mätningar med hög precision i olika och krävande miljöer. Bojiong Optoelectronics är inställd på att revolutionera optisk prestandamätning och analys, vilket leder branschen mot en enastående era av precision och effektivitet. Genom att sätta nya riktmärken för noggrannhet och operativ lätthet ger FIS4 UV Wavefront -sensor forskare och industrier att driva gränserna för optisk innovation.

Specifikation ：

Funktion i Bojiong Fis4 UV Wavefront -sensor

◆ UV -spektrum 200NM ~ 400NM BAND

◆ 2nm RMS Hög fasupplösning

◆ 100% inhemskt utvecklad

◆ Envägsljus självstörning, inget referensljus krävs

◆ Extremt stark vibrationsmotstånd, inget behov av optisk vibrationsisolering

◆ Med laserstörningsbanor Suppression Design

◆ Stöd kollimerade balkar, högkollimerade strålar

  Applicering av Bojiong FIS4 UV Wavefront -sensor

Denna Bojiong FIS4 UV -vågfrontsensor som används för mätning av optisk systemavvikelse, optisk systemkalibrering, platt (skiva) ytformmätning, optisk sfärisk ytformsmätning, etc.

Bojiong FIS4 UV Wavefront Sensor Detaljer

Bojiong FIS4 UV Wavefront -sensor utvecklades av ett team av professorer från Zhejiang University och Nanyang Technological University, Singapore. Den har en ultrahög upplösning på 512 × 512 (262144) faspunkter och kan uppnå högprecisionsvågfrontmätning i 200nm till 400 nm-bandet. Det kan användas för mätning av optisk systemavvikelse, optisk systemkalibrering, plan (skiva) ytmätning, optisk sfärisk ytmätning, etc.

FIS4 UV kombinerar den patenterade slumpmässiga kodade fyrvågs diffraktionstekniken med UV-kameran och stör det bakre bildplanet. Den har låga krav på lätta källkoherens och kräver inte fasförskjutning. Det kan uppnå realtidsvågfrontmätning med UV-avbildningssystemet. Den har extremt hög vibrationsmotstånd och ultralätt stabilitet och kan uppnå precisionsmätning på NM-nivå utan vibrationsisolering.